Please use this identifier to cite or link to this item: http://archives.univ-biskra.dz/handle/123456789/11880
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dc.contributor.authorZIGHEM, MOHAMMED_ENNADHIR-
dc.date.accessioned2019-03-19T10:20:15Z-
dc.date.available2019-03-19T10:20:15Z-
dc.date.issued2013-06-03-
dc.identifier.urihttp://archives.univ-biskra.dz/handle/123456789/11880-
dc.description.abstractLes détecteurs des particules sont utilisés dans le domaine de la physique de particule ainsi que dans d'autres disciplines. Lorsqu’un détecteur est exposé aux radiations (électron, proton, photon….etc.) il en résulte une dégradation dans ses caractéristiques électriques : efficacité de collection de charge (CCE), densité effective des impuretés, tension de déplétion, courant de fuite, ,…..etc. L’objectif de ce présent travail est d'étudier les effets des pièges, créé par les radiations, sur la CCE en utilisant deux modèles analytiques. La CCE est améliorée en augmentant en même temps la tension de polarisation et la longueur de détecteur alors qu'elle diminue lorsque la densité de pièges augmente (réduction de la durée de vie des porteurs de charge).en_US
dc.language.isofren_US
dc.titleMODÉLISATION ANALYTIQUE DE L’EFFICACITÉ DE COLLECTION DE CHARGE D’UN DÉTECTEUR DE PARTICULE AU SILICIUMen_US
dc.typeMasteren_US
Appears in Collections:Faculté des Sciences et de la technologie (FST)

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