Effet du nombre de dépositions sur les propriétés des couches mince de ZnO élaborées avec la méthode sol-gel

Abstract

Dans ce travail nous avons élaborés des couches minces de ZnO par voie sol-gel. Les échantillons sont élaborés pour différents nombre de déposition (5, 10, 15, 20, 25 et 30 dépositions). La caractérisation des couches minces obtenues a été faite par la diffraction des rayons X, la spectrophotométrie UV-visible et la méthode de quatre pointes. La DRX a permet de confirmer la formation de ZnO polycristallin avec une structure hexagonale de type wurtzite, la taille des grains est à l’échelle nanométrique dont la valeur minimale 20.016 (nm) est enregistré pour l’échantillon de 30 dépositions, cette dernière montre aussi une bonne cristallisation. Les couches de ZnO élaborées montrent une bonne transparence dans le visible où la transmittance est entre 80% et 99%. L’énergie du gap varie entre 3.534 à 3.297 eV, la grande valeur du gap est enregistrée pour la valeur minimale de la taille des grains, ce résultat est en bon accord avec la littérature. La méthode de quatre pointes montre que la résistance varie avec la taille des grains ; la valeur minimale est notée pour la couche de 10 dépositions, elle est de l’ordre 1,448x106 Ahom mais cette couche n’a pas une bonne cristallinité, ce dernier est très bon pour la couche de 30 dépositions. La résistance et la taille des grains de la couche de 30 dépositions sont 1,5189x106 Ahom et 20,016nm respectivement. Mots clés : couches minces, Oxyde de zinc, sol-gel, dip-coating, nombre de dépositions, DRX, spectroscopie UV-Vis, quatre pointes.