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dc.contributor.authorHakima, CHERIF-
dc.date.accessioned2023-04-18T09:21:41Z-
dc.date.available2023-04-18T09:21:41Z-
dc.date.issued2021-07-01-
dc.identifier.urihttp://archives.univ-biskra.dz/handle/123456789/24596-
dc.description.abstractL’objectif de cette thèse est d’apporter une contribution dans le domaine de la surveillance et du diagnostic des défauts des moteurs à induction. Les défauts pris en compte sont du type: court-circuits entre spires et rupture de barres rotoriques. Deux techniques sont utilisées pour détecter les défauts: l’une se base sur l'analyse spectrale de l'enveloppe du courant statorique (HFFT) pour diagnostiquer un défaut de rupture de barres rotoriques et l’autre se base sur les trois rapports d’énergie d'ondelette discrète (REOD) des courants statoriques pour diagnostiquer un défaut de court- circuits entre spires. Un système de surveillance automatique et intelligente pour détecter et localiser des défauts sous différentes conditions de fonctionnement du moteur est conçu par l'utilisation des techniques avancées intelligentes à base des réseaux de neurones (RN) et des réseaux neuro-flous de type ANFIS (système d'inférence flou à base de réseaux de neurones adaptatifs) dont la base de connaissance est déduite de l’utilisation des indicateurs issus les deux techniques (HFFT et REOD) du courant statorique du moteur. Ceci permet, en plus de la détection, la détermination du nombre de barres en défaut au rotor et la localisation de la phase de défaut de court-circuit entre spiresen_US
dc.description.sponsorshipUniversité Mohamed Khider - Biskraen_US
dc.language.isofren_US
dc.publisherUniversité Mohamed Khider - Biskraen_US
dc.subjectFFTen_US
dc.subjectmoteur à inductionen_US
dc.subjectdéfaut rotoriqueen_US
dc.subjectcassure de barresen_US
dc.subjectcourt-circuit entre-spires,en_US
dc.subjectdiagnosticen_US
dc.subjectOndeletteen_US
dc.subjectRéseaux de Neurones (RN)en_US
dc.subjectRéseau Neuro-Flou.en_US
dc.titleDétection des défauts dans la machine à induction par des techniques avancées.en_US
dc.typeThesisen_US
Appears in Collections:Département de Génie Electrique

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