La résistivité d'une diode au silicium utilisée comme détecteur de particules

Abstract

Résumé La résistivité (ρ) d’une structure p+nn+ au silicium, utilisée comme détecteur de particules travaillant dans un environnement hostile et soumis à de fortes fluences, est simulé numériquement en utilisant la méthode des différences finies. Lorsque cette jonction est soumise à des fortes radiations, des défauts structuraux sont créés qui ont des effets indésirables et peuvent dégrader les performances des détecteurs. Ces défauts se manifestent comme des pièges accepteurs et des centres de génération-recombinaison (g-r). La résistivité augmente avec l’augmentation de la densité du piège accepteur pour atteindre la résistivité intrinsèque (maximale).